4.2. 열처리 및 이방성 효과 크리프 속성

first, 우리는 곡물 형태의 크리프 성질에 효과를 고려했다. ASBULIT 조건에서 HX와 HX-A 표본은 기둥 형성 (그림 5)을 나타냈다. 원자형 그레인 형성은 첨가제 제조 재료의 자연 현상입니다. 이것은 다양한 합금의 많은 연구원들에 의해 입증되었습니다 [28,29]. 기둥 형 곡물은 주로 에피 택셜 곡물 성장, 급속 가열 및 SLM 공정 동안 급속 가열 및 냉각으로 층-By-layer 형성의 결과에 기인합니다 [30]. 기둥 형태 형태가있는 재료는 더 나은 크리프 특성을 나타냅니다 [31]. HX-A-built 표본은 많은 균열이 있지만 그것은 HX 표본보다 더 나은 크리프 속성을 보여주었습니다. HX-A 수직 표본의 크리프 특성은 AS-built 상태 (그림 10A)의 HX 수직 표본보다 1.46 배 더 긴 크리프 수명을 보여주었습니다. 또한 HX-a 표본의 이트륨 첨가는 Y 및 Si의 산화물 (그림 4) 및 HX 표본과 비교하여 장기간의 크립 수명을 냈습니다. 수평 AS-built 샘플의 크립 특성은 그림 10b에 묘사됩니다. 수평 표본에서 HX-A 표본은 HX 표본에 비해 열등한 크리프 생활을 보였다. 이것은 응력 축에 수직 인 균열의 존재로 인한 것입니다 (그림 1B). 결과적으로, HX 표본 havin-&103; 더 적은 균열 (그림 1A)은 HX#A 표본보다 더 긴 크리프 수명을 보여주었습니다. 그러나, AS-built 조건에서 균열 및 기둥 형태로 인해, HX와 HX-a 표본 모두에서 널리 퍼진 이방성 크립 특성. 용액 처리는 HX 및 HX-A 표본의 미세 구조를 변경했습니다. 용액 열처리 후, HX 시편은 등형 곡물 형태를 나타내었고 방향이 무작위로되었다 (그림 8A). 한편, HX-a 표본은 기둥 형태의 형태학을 유지했다 (그림 8b). 그레인 경계에서-built 샘플의 SEM 분석은 그레인 경계 핀 닝 효과를 유지하는 곡물 경계에서 탄화물의 형성을 보여주었습니다. 그레인 경계 핀 닝 효과는 기둥 곡물 형태 (그림 7A)를 유지합니다. Fe-SEM 분석은 경계에서 단계를 찾기 위해 HX-A St Specimen의 입자 경계에서 수행되었습니다. MC (Si, Y), (Mo, W) 6C 및 그레인 경계에 형성된 CR23C6 탄화물 (도 7b). 카바이드에 의한 입경 경계는 결국 기둥 형태의 형태를 유지합니다. HX와 HX-A ST 표본 사이의 또 다른 중요한 차이는 HX-A 시편의 곡물 (그림 9A) 내부의 M6C 카바이드의 형성입니다. 이트륨은 미세한 Mo-rich 탄화물 및 그레인 내부의 큰 산화물의 고밀도를 촉진합니다 (그림 9a). HX-A ST 표본 (29.6 시간)의 수직 방향을 따라 크리프 생활은 HX ST 표본의 수직 방향보다 8 배 낫고 퇴치병 신장은 HX ST 표본의 거의 두 배로되었다 (그림 10C). HX-A ST 표본의 곡물 형태는 방향으로 고형화 된 (DS) Ni-based Superalloys [29]의 곡물 형태와 유사했다. 스트레스 축에 대한 입금 경계는 일반적으로 통상적으로 주조 된 초합금의 균열 개시 부위입니다. 따라서 원자리 곡물 형태학은 크리프 생활을 향상시킵니다. 따라서, HX-a ST 수직 시험편은 HX ST 수직 시험편보다 더 나은 크리프 특성을 나타냈다. 반면에 HX ST 크리프 테스트는 HX ST 표본에서 등형 곡물 형태로 인해 낮은 크리프 수명과 연성을 초래했습니다. HX-A ST 수직 시험편에서 크리프 수명 개선에는 두 가지 추가 이유가 있습니다. 첫째, HXA 표본의 곡물 내부의 M6C 카바이드의 형성 (그림 9a)은 HX-A ST 수직 시험편의 크리프 수명 개선에 영향을 미칩니다. 둘째, y 및 si 산화물은 더 높은 온도에서도 안정적이다; 또한 전위 운동을 방해하여 크리프 저항을 향상시킵니다. 또한, 입경 경계는 HX-a 시편에서 크리프 속도를 낮추어 입금 경계를 제어합니다 (그림 13).--

additionally, 연속의 형성 그레인 경계의 탄화물 (도 14a)은 저 연성을 초래한다. 탄화물은 균열 핵제가 일단 취한 단계이기 때문에 신속하게 발전하여 연신율을 줄입니다 (그림 10C). 그러나,도 6d와도 14b의 비교로부터, 이들 카바이드 (도 14b)는 입자 경계 슬라이딩 및 생성 된 균열 형성에 저항하기 때문에 HX

treated 표본에서 수행되었습니다. HXA 표본 (그림 1B)에서는 이러한 균열이 응력 축에 수직 인 정렬이며 균열 팁의 응력 집중이 증가합니다. 쉬운 균열 전파는 크게 크리프 속성을 초래합니다. HX 수평 시험편은 전자가 균열이 적었기 때문에 HX-A 수평 표본 (그림 10D)보다 더 나은 크리프 수명을 보였다 (그림 1A).---